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Influence of layer structure and surface passivation on performance of AlGaN/GaN HEMTs on Si and SiC substrates
Bernát, J.FZJ* ; Javorka, P.FZJ* ; Wolter, M.FZJ* ; Fox, P. T.FZJ* ; Marso, M.FZJ* ; Kordos, P.FZJ*
2003
20032003 International Semiconductor Device Research Symposium
Seminar, Washington, DCWashington, DC, 9 Dec 20032003-12-09
Note: Record converted from VDB: 12.11.2012
Contributing Institute(s):
- Institut für Halbleiterschichten und Bauelemente (ISG-1)
Research Program(s):
- Materialien, Prozesse und Bauelemente für die Mikro- und Nanoelektronik (I01)
Appears in the scientific report
2003
Notes: Nachtrag