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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Positions- und Energiebestimmung in Szintillationsdetektoren. Erfindungsgemäß wird die Photokonversionsenergie und Photokonversionsposition von Teilchen, welche Szintillationsereignisse auslösen, aus der von einem Fotodetektor abgetasteten Verteilung des freigesetzten Szintillationslichts von einem Szintillationsereignis oder mehreren Szintillationsereignissen in einem iterationsfreien Verfahren nach den Formeln (6), (7) und (8) berechnet..

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Auslesen der Zustände mehrerer insbesondere supraleitender Qubits (Q1-Qn), bevorzugt Flux-Qubits, wobei den Qubits (Q1-Qn) für das Auslesen der Zustände das gleiche Probensignal (7) über eine gemeinsame Probenleitung (8) zugeführt wird, und wobei jedem Qubit (Q1-Qn) eine eigene, bevorzugt einen Antwort-Resonator (4) aufweisende Antwort-Schaltung (5) zugeordnet ist, und wobei in Reaktion auf das zugeführte Probensignal (7) über die jeweilige Antwort-Schaltung (5) ein Antwortsignal (20) mit einer Information über den Zustand des jeweiligen Qubits (Q1-Qn)ausgegeben wird, wobei dass das Antwortsignal (20) wenigstens eines Qubits (Q1-Qn) gegenüber dem Antwortsignal (20) wenigstens eines weiteren Qubits (Q1-Qn) verzögert wird..

Die Erfindung betrifft einen Schaltkreis mit einem Analog-Digital-Wandler (1), einem Operationsverstärker (2), einem Memristor (3) und einem Transistor (4), wobei der Ausgang des Analog-Digital-Wandlers (1) mit dem einen ersten Eingang des Operationsverstärkers (2) elektrisch leitend verbunden ist und der Drain-Anschluss des Transistors (4) sowie ein erster elektrischer Anschluss des Memristors (4) mit dem anderen zweiten Eingang des Operationsverstärkers (2) elektrisch leitend verbunden sind und wobei der Ausgang des Operationsverstärkers (2) mit dem Gate-Anschluss des Transistors (4) elektrisch leitend verbunden ist. Durch den Schaltkreis kann eine gewünschte Spannung sehr genau an den Memristor (3) angelegt werden. [...]

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung einer Kapazitätsänderung, wobei ein oszillierendes Referenzsignal (R) und ein oszillierendes Oszillatorsignal (O) durch elektrische Schwingkreise erzeugt werden, wobei durch eine Kapazitätsänderung, die weniger als 100 Attofarad oder weniger als 10 Attofarad beträgt, die Phase des Oszillatorsignals (O) geändert wird, wobei im Anschluss an die Änderung der Phase des Oszillatorsignals (O) die dadurch bewirkte Phasenverschiebung zwischen dem Referenzsignal (R) und dem Oszillatorsignal (O) durch einen Phasendetektor (PD) ermittelt wird.Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung zur Durchführung eines Verfahrens mit einer Phasenregelschleife vom Typ 2 umfassend einen elektrischen Schwingkreis zur Erzeugung eines Oszillatorsignals (O), mit einem Quantenpunkt, mit einer quasi-nulldimensionalen Halbleiterstruktur neben dem Quantenpunkt, mit einer elektrischen Verbindung oder Kopplung zwischen der quasi-nulldimensionalen Halbleiterstruktur und dem Schwingkreis.Durch die Erfindung kann der Spinzustand eines Elektrons bei einem Quantencomputer mit einfachen technischen Mitteln zuverlässig ausgelesen werden..

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Auslesevorrichtung (4) zum zeitversetzten Auslesen von mehreren Quanteneinrichtungen (2), umfassend - mehrere Abtast- und Haltemodule (5), wobei jedes der Abtast- und Haltemodule (5) mit wenigstens einer Quanteneinrichtung (2) verbunden oder verbindbar ist, und wobei jedes der Abtast- und Haltemodule (5) mindestens zwei Abtast- und Halteglieder (6, 7), umfasst, - mindestens zwei globale Triggerleitungen, - mindestens einen globalen Komparator (8), - mindestens zwei globale Übertragungsleitungen (9, 10), über welche in den Abtast- und Haltegliedern (6, 7) der zugeordneten Abtast- und Haltemodule (5) gehaltene Quanten-Zustandswerte an den globalen Komparator (8) übertragen werden können, und - den Abtast- und Haltegliedern (6, 7) der Abtast- und Haltemodule (5) zugeordnete Aktivierungsmittel, die derart ausgebildet und/oder eingerichtet sind, dass von den Abtast- und Haltegliedern (6, 7) der Abtast- und Hal- temodule (5) gehaltene Quanten-Zustandswerte modulweise sequentiell an den globalen Komparator (8) übertragen werden können..

Die Erfindung betrifft einen Empfänger mit einer Einrichtung für eine dynamische Wavelet-Analyse für ein empfangenes Detektorsignal, durch die ein empfangenes zeitabhängiges Detektorsignal in zumindest zwei frequenzabhängige Signalanteile zerlegt werden kann, wobei der eine Signalanteil hohen Frequenzen zugeordnet ist und der andere Signalanteil niedrigen Frequenzen, mit einer Umwandlungseinrichtung für die Digitalisierung des Detektorsignals oder die Digitalisierung von Signalanteilen, mit einer Signalverarbeitungseinrichtung (5), die digitalisierte Signalanteile verarbeitet, wobei der Empfänger so eingerichtet ist, dass der Signalanteil, der hohen Frequenzen zugeordnet ist, mit einer hohen Taktfrequenz an die Signalverarbeitungseinrichtung (5) weitergeleitet wird, und der Signalanteil, der niedrigen Frequenzen zugeordnet ist, mit einer kleinen Taktfrequenz an die Signalverarbeitungseinrichtung (5) weitergeleitet wird, und/oder wobei der Empfänger so eingerichtet ist, dass der Signalanteil, der hohen Frequenzen zugeordnet ist, mit einer geringen Auflösung digitalisiert wird, und der Signalanteil, der niedrigen Frequenzen zugeordnet ist, mit einer großen Auflösung digitalisiert wird. Die Erfindung betrifft ein Verfahren für ein Verarbeiten eines Detektorsignals durch den Empfänger wobei von einem Detektor (1) ein Puls förmiges Detektorsignal zum Empfänger weitergeleitet wird. [...]

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Bestimmung einer Ankunftszeit eines Signalpulses mit einer Vergleichseinrichtung, die so eingerichtet ist, dass diese den zeitlichen Verlauf eines Signalpulses (V(t)) mit zwei Referenzwerten (V1, V2) vergleicht und die eine Zeitanalyseeinrichtung (TDC) der Vorrichtung triggert, wenn der Signalpuls (V(t)) einen Referenzwert (V1, V2) erreicht, wobei die Zeitanalyseeinrichtung (TDC) so eingerichtet, dass diese die Zeit zwischen dem ersten und dem zweiten Triggern ermittelt, und wobei die Vorrichtung so eingerichtet ist, dass diese mithilfe der ermittelten Zeit und mithilfe der Referenzwerte (V1, V2) eine Ankunftszeit des Signalpulses bestimmt. Auf technisch einfache Weise kann mit der Vorrichtung eine Ankunftszeit eines Signalpulses ermittelt werden. [...]

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abgleichen der Sender-Clockfrequenz (fsc) eines ein Signal sendenden Senders (BS1-BS8) und der Empfänger-Clockfrequenz (fec) eines das Signal empfangenden Empfängers (MD), bei dem- das von dem Empfänger empfangene Signal einem Mischer (14), Frequenzabgleich-Mischer, in dem ein Mischen, insbesondere Runtermischen mit einer Mischfrequenz erfolgt, die der Empfänger-Clockfrequenz (fec) entspricht oder in einem festen, bevorzugt ganzzahligen Verhältnis zu der Empfänger-Clockfrequenz (fec) steht, zugeführt wird,- ermittelt wird, ob die Frequenzkomponente des Ausgangssignals des Frequenzabgleich-Mischers (14) in einem festen, bevorzugt ganzzahligen Verhältnis zu der Empfänger-Clockfrequenz (fec) steht, und- für den Fall, dass dem nicht so ist, die Empfänger-Clockfrequenz (fec) und/oder die Sender-Clockfrequenz (fsc) angepasst wird, bevorzugt derart, dass dies der Fall ist.Darüber hinaus betrifft die Erfindung ein Verfahren und System zum Abgleichen der Mischfrequenz eines Mischers (10) eines Empfängers (MD) und der Trägerfrequenz eines von dem Empfänger (MD) empfangenen Signals sowie ein Verfahren und ein System zur Positionsbestimmung, insbesondere Indoor-Positionsbestimmung..