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Hauptseite > Publikationsdatenbank > Single in-situ interface characterization composed of niobium and a selectively grown (Bi1-xSbx)2Te3 topological insulator nanoribbon > Reviews
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Single in-situ interface characterization composed of niobium and a selectively grown (Bi1-xSbx)2Te3 topological insulator nanoribbon - FZJ-2023-05761
 
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