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Temperature-dependent Current Voltage Measurements in Hexagonal Boron Nitride Threshold Memristors with Nickel Electrodes
Völkel, L. ; Braun, D. ; Belete, M. ; Kataria, S. ; Wahlbrink, T. ; Ran, K. ; Kistermann, K. ; Mayer, J.FZJ* ; Menzel, S.FZJ* ; Daus, A. ; Lemme, M. C.
2023
2023MemriSys 2023, TorinoTorino, Italy, 5 Nov 2023 - 9 Nov 20232023-11-052023-11-09
Contributing Institute(s):
- Elektronische Materialien (PGI-7)
- JARA-FIT (JARA-FIT)
- Materialwissenschaft u. Werkstofftechnik (ER-C-2)
Research Program(s):
- 5233 - Memristive Materials and Devices (POF4-523) (POF4-523)
- BMBF 16ME0398K - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC II - (BMBF-16ME0398K) (BMBF-16ME0398K)
- BMBF 03ZU1106AB - NeuroSys: "Memristor Crossbar Architekturen (Projekt A) - B" (BMBF-03ZU1106AB) (BMBF-03ZU1106AB)
- BMBF 16ME0399 - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC II - (BMBF-16ME0399) (BMBF-16ME0399)
Appears in the scientific report
2023