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RESET Kinetics of 28 nm Integrated ReRAM
Wiefels, S.FZJ* ; Kopperberg, N. ; Hofmann, K. ; Otterstedt, J. ; Wouters, D. ; Waser, R. ; Menzel, S.FZJ*
2023
IEEE
20232023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) : [Proceedings] - IEEE, 2023. - ISBN 979-8-3503-2727-4 - doi:10.1109/IIRW59383.2023.10477700
2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), South Lake TahoeSouth Lake Tahoe, CA, 8 Oct 2023 - 12 Oct 20232023-10-082023-10-12
IEEE 1 pp. (2023) [10.1109/IIRW59383.2023.10477700]2023
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Contributing Institute(s):
- Elektronische Materialien (PGI-7)
- JARA-FIT (JARA-FIT)
Research Program(s):
- 5233 - Memristive Materials and Devices (POF4-523) (POF4-523)
- BMBF 16ME0399 - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC II - (BMBF-16ME0399) (BMBF-16ME0399)
- BMBF 16ME0398K - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC II - (BMBF-16ME0398K) (BMBF-16ME0398K)
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