Conference Presentation (Invited) FZJ-2025-04998

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png
Can NCM cathode materials be explored by advanced scanning probe techniques ?

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2025

10th Multifrequency AFM Conference, MadridMadrid, Spain, 26 May 2025 - 30 May 20252025-05-262025-05-30


Contributing Institute(s):
  1. Grundlagen der Elektrochemie (IET-1)
Research Program(s):
  1. 1223 - Batteries in Application (POF4-122) (POF4-122)
  2. FestBatt-Charakterisierung - Methodenplattform 'Charakterisierung' im Rahmen des Kompetenzclusters für Festkörperbatterien (13XP0176B) (13XP0176B)
  3. HITEC - Helmholtz Interdisciplinary Doctoral Training in Energy and Climate Research (HITEC) (HITEC-20170406) (HITEC-20170406)

Appears in the scientific report 2025
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Dokumenttypen > Präsentationen > Konferenzvorträge
Institutssammlungen > IET > IET-1
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
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 Datensatz erzeugt am 2025-12-05, letzte Änderung am 2025-12-05



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