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Forschung
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the Jülich Centre for Electron Microscopy: electron microscopy, ceramics and oxide superconductors, hrtem methods, metals and nanostructured semiconductors |
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Deposition und Anwendung von keramischen Supraleitern:
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Die Arbeitsgruppe Rastertunnelmikroskopie des Instituts für Mikrostrukturforschung untersucht Oberflächen- und Volumendefekte in Verbindungshalbleitern und die Struktur von Quasikristalloberflächen. Im folgenden wird eine kurze Auswahl der Forschungsergebnisse vorgestellt. |
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Forschungszentrum Jülich D-52425 Jülich |
Institut Mikrostrukturforschung (IMF) |
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Impressum |
06.11.2003 |