Mitarbeiter

Wissenschaftlicher Mitarbeiterstab Technischer Mitarbeiterstab Doktoranden und Diplomanden
Direktor
Urban, K. Prof. Dr. K.Urban@fz-juelich.de	Direktor der Instituts für Mikrostrukturforschung	Tel.: 02461-61-3153 Fax: 02461-61-6444

Sekretariat
Rische-Radloff, I. Frau I.Rische-Radloff@fz-juelich.de	Sekretärin	Tel.: 02461-61-4274 Fax: 02461-61-6444

Direktor/Sekretariat Technischer Mitarbeiterstab Doktoranden und Diplomanden
Wissenschaftlicher Mitarbeiterstab
Divin, Dr. Yuri Y.Divin@fz-juelich.de	Hilbert-Spektroskopie	Tel.: 02461-61-2394
Ebert, Dr. Phillipp P.Ebert@fz-juelich.de	Rastertunnelmikroskopie an Halbleitern und Quasikristallen	Tel.: 02461-61-5023
Faley, Dr. Michael M.Faley@fz-juelich.de	Hochtemperatur-Supraleiter-SQUIDs	Tel.: 02461-61-4366
Feuerbacher, Dr. Michael M.Feuerbacher@fz-juelich.de	Plastitzität von Quasikristallen und metallischen Legierungen	Tel.: 02461-61-2409
Grushko, Dr. Benjamin B.Grushko@fz-juelich.de	Kristallwachstums, Phasendiagramme metallischer Legierungen	Tel.: 02461-61-2399
Houben, Dr. Lothar L.Houben@fz-juelich.de	Strukturelle Charakterisierung mikrokristallinen Siliziums sowie von Solarzellen und Untersuchung elektrischer Feldverteilungen an Korngrenzen in Halbleiterbauelementen durch elektronenholographische Verfahren	Tel.: 02461-61-8037
Jia, Dr. Chunlin C.Jia@fz-juelich.de	Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an HTC-Supraleiterns und oxidischen Elektrokeremiken	Tel.: 02461-61-2408
Lentzen, Dr. Markus M.Lentzen@fz-juelich.de	Rekonstruktionstechniken der Hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie und Grundlagen der aberrationskorrigierten Transmissionselektronenmikroskopie	Tel.: 02461-61-6644
Luysberg, Dr. Martina M.Luysberg@fz-juelich.de	Transmissionselektronenmikoskopie an Halbleiterheterostrukturen, LT-GaAs und mikrokristallinem Silizium	Tel.: 02461-61-2417
Mi, Dr. Shaobo S.Mi@fz-juelich.de	Bildung intermetallischer und quasikristalliner Phasen in ternären Legierungen aus Aluminium und Übergangsmetallen	Tel.: 02461-61-2412
Poppe, Dr. Ulrich U.Poppe@fz-juelich.de	Deposition von HTC-Supraleiter-Schichtsystemen	Tel.: 02461-61-4256
Thust, Dr. Andreas A.Thust@fz-juelich.de	Rekonstruktionstechniken der Hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie und Grundlagen der aberrationskorrigierten Transmissionselektronenmikroskopie	Tel.: 02461-61-6644
Tillmann, Dr. Karsten K.Tillmann@fz-juelich.de	Quantitative Analysen zur Selbstorganisation, Interdiffusion und Spannungsrelaxation niedrigdimensionaler Halbleiter-Nanostrukturen durch quantitative Verfahren der Hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie und durch numerische Berechnungen nach der Methode der Finite Elemente	Tel.: 02461-61-2409
Yurechko, Dr. Marija M.Yurechko@fz-juelich.de	Rastertunnelmikroskopie an Quasikristallen	Tel.: 02461-61-3155

Direktor/Sekretariat Wissenschaftlicher Mitarbeiterstab Doktoranden und Diplomanden
Technischer Mitarbeiterstab
Fischer, Klaus K.Fischer@fz-juelich.de	Kristallwachstum und Materialpräparation	Tel.: 02461-61-4732
Graf, Karl-Heinz K.-H.Graf@fz-juelich.de	Netzwerk- und Rechnerbetreuung, Geräteentwicklung für die Rastertunnelmikroskopie	Tel.: 02461-61-6642
Meertens, Doris D.Meertens@fz-juelich.de	Präparation halbleitenden und metallischen Probenmaterials, Raster- und transmissionselektronenmikroskopische Analysen	Tel.: 02461-61-3910
Pieper, Werner W.Pieper@fz-juelich.de	Technische Betreung des Geräteparks des, Centrums für Hochauflösende Elektronenmikroskopie	Tel.: 02461-61-6700
Schwill, Kerstin K.Schwill@fz-juelich.de	Auszubildende	Tel.: 02461-61-3152
Speen, Rolf R.Speen@fz-juelich.de	SQUID-Mikroskopie und HTC-Supraleiter-Depositionstechniken	Tel.: 02461-61-6642
Thomas, Carsten C.Thomas@fz-juelich.de	Kristallzucht und Materialpräparation	Tel.: 02461-61-5749
Wassenhoven, Gaby G.Wassenhoven@fz-juelich.de	Photographie und -laborarbeiten	Tel.: 02461-61-3910
Würtz, Eva-Maria E.Wuertz@fz-juelich.de	Metallographie und Rasterelektronenmikroskopie	Tel.: 02461-61-6674

Direktor/Sekretariat Wissenschaftlicher Mitarbeiterstab Technischer Mitarbeiterstab
Doktoranden und Diplomanden
Balanetskyy, Sergij S.Balanetskyy@fz-juelich.de	Bildung intermetallischer und quasikristalliner Phasen in ternären Legierungen aus Aluminium und Übergangsmetallen	Tel.: 02461-61-2412
Heggen, Marc M.Heggen@fz-juelich.de	Plastizität von Quasikristallen und intermetallischen Phasen	Tel.: 02461-61-2418
Hüging, Norbert N.Hueging@fz-juelich.de	In-situ Transmissionselektronenmikroskopie zur Analyse der Bildung von Nanokavitäten und Versetzungen in implantierten GeSi/Si Heterostrukturen sowie die quantiative Bestimmung assoziierter elastischer Verzerrungsfelder durch Beugungskontrastanalysen	Tel.: 02461-61-2391