Übersicht

der Beleuchtung der theoretischen und technischen Aspekte der atomar auflösenden Transmissionselektronenmikroskopie, welche gleichzeitig die primäre Analysemethode des Centrums für Hochauflösende Elektronenmikroskopie repräsentiert. So finden im Institut entwickelte Programmpakete zur Rekonstruktion der Austrittswellenfunktion in einer Vielzahl von Laboratorien weltweit wachsend Verwendung. Darüberhinaus hat das Institut einen entscheidenden Beitrag zur Entwicklung des weltweit ersten aberrationskorrigierten Transmissionselektronenmikroskops geleistet, welches bei einer Beschleunigungsspannung von nur 200 kV über eine Rekordauflösung von 1.2 Å verfügt.
der Untersuchung des Wachstums- und Relaxationsverhaltens von Nanostrukturierten Halbleitern durch fortgeschrittene Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie. Relevante Forschungsarbeiten schließen die Identifizierung von Relaxationsmechanismen und die Bestimmung von Relaxationsbeiträgen zur Spannungsminderung in gitterfehlangepaßten Schichtsystemen, die Quantifizierung des Interdiffusionsverhaltens von Heterostrukturen auf atomarer Ebene und die Bestimmung dotierungsinduzierter elektrischer Feldverteilungen durch die Elektronenholographie ein.
der Aufklärung struktureller Fragestellungen bei der Herstellung und beim Wachstums von Dünnschichtsystemen aus Elektrokeramiken sowie die Korrelation der Mikrostruktur mit den elektronischen Charakteristika. Dieses anspruchsvolle Forschungsprogramm profitiert innerhalb einer engen Kooperation mit dem Institut für Elektrokeramische Materialen insbesondere von unserer fundierten Expertise auf dem Gebiet der mikroskopischen Analyse perowskitischer Materialien.
der Präparation und der Untersuchung der strukturellen Eigenschaften einkristalliner Quasikristalle und komplexer intermetallischer Legierungen. Die Kristallzucht dieser Metallischen Verbindungen, welche die Basis eigener Forschungsarbeiten zur Plastizität, zu Phasenumwandlungen und zur Oberflächenphysik dieser Materialklassen bildet, repräsentiert gleichzeitig eine wichtige Serviceaufgabe innerhalb internationaler Kooperationen.
der Deposition dünner Schichten und Heterostrukturen auf der Basis Oxidischer Supraleiter einschließlich der Erschließung des Anwendungspotentials von Josephson-Effekten zur Magnetfeldmessung und zur ortsaufgelösten SQUID-Mikroskopie sowie für spektroskopische Analysen in Form von Hilbert-Spektrometern.
der Untersuchung elektronischer Anregungen, insbesondere infolge geladener Dotieratome oder Verunreinigungen, in Halbleitern und Quasikristallen durch die Rastertunnelmikroskopie.