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Poster (Other) FZJ-2013-05605
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Electronically unmixed state of a statistical two-dimensional Ga-Si semiconductor alloy on Si(111)

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2013

Atomic Level Characterization Symposium 2013, Keauhou / HawaiKeauhou / Hawai, USA, 1 Dec 2013 - 6 Dec 20132013-12-012013-12-06

Contributing Institute(s):
  1. Mikrostrukturforschung (PGI-5)
Research Program(s):
  1. 421 - Frontiers of charge based Electronics (POF2-421) (POF2-421)

Appears in the scientific report 2013
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The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Poster
Institutssammlungen > ER-C > ER-C-1
Institutssammlungen > PGI > PGI-5
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank
 Datensatz erzeugt am 2013-11-20, letzte Änderung am 2024-06-10
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