Conference Presentation (Invited) PreJuSER-14245

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png
Formation of Ge/Si Nanostructures observed and characterized by STM during growth



2010

International Workshop: Understanding materials using in-situ microscopy
Seminar, GöttingenGöttingen, 10 Nov 20102010-11-10


Note: Record converted from VDB: 12.11.2012

Contributing Institute(s):
  1. Grenz- und Oberflächen (IBN-3)
  2. Jülich-Aachen Research Alliance - Fundamentals of Future Information Technology (JARA-FIT)
Research Program(s):
  1. Grundlagen für zukünftige Informationstechnologien (P42)

Appears in the scientific report 2010
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The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Konferenzvorträge
JARA > JARA > JARA-JARA\-FIT
Institutssammlungen > PGI > PGI-3
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank

 Datensatz erzeugt am 2012-11-13, letzte Änderung am 2018-02-08



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