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| 037 | _ | _ | |a FZJ-2015-02971 |
| 041 | _ | _ | |a German |
| 100 | 1 | _ | |a Schöffmann, Patrick |0 P:(DE-HGF)0 |b 0 |e Corresponding Author |
| 245 | _ | _ | |a Untersuchung von dünnen Oxidschichten mit dem Rasterkraftmikroskop |f 2015-08-25 |
| 260 | _ | _ | |c 2014 |
| 300 | _ | _ | |a 75 p. |
| 336 | 7 | _ | |a Bachelor Thesis |b bachelor |m bachelor |0 PUB:(DE-HGF)2 |s 1430722568_23237 |2 PUB:(DE-HGF) |
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| 502 | _ | _ | |a TUM, Bachelorarbeit, 2014 |c TUM |b BA |d 2014 |
| 520 | _ | _ | |a Dünne Oxidschichten in Perowskitstruktur sind ein hochaktuelles Forschungsgebiet, da sie in vielen verschiedenen Bereichen, wie z.B. der Halbleiterforschung Anwendung finden. Besonders in der Perowskit-basierten Photovoltaik wurden in den letzten Jahren große Fortschritte erzielt [1]. So ist die Effizienz von Solarzellen auf Perowskitbasis in nur fünf Jahren von 4% auf 18% angestiegen [2].Auch auf dem Gebiet der intensitätsstarken Leuchtdioden sind Perowskite ein sehr aktueller Forschungsgegenstand. Anfang August wurde ein Artikel von Tan et al. veröffentlicht, in dem LEDs mit einem Perowskit-Emitter vorgestellt werden[3].Um jedoch Vielfachschichtsysteme, wie die aufgeführten Beispiele, aus Oxiden wachsen zu können, müssen die einzelnen Schichten glatt abgeschlossen sein, da sich ansonsten die Rauigkeiten der unteren Schichten auf die Folgeschichten auswirken und diese noch rauer werden würden. Deswegen ist es wichtig die Oberflächenstruktur der Schichten zu analysieren. Das Ziel dieser Arbeit ist die Untersuchung von dünnen Lanthan-Strontium-Manganat-Schichten. Dies geschieht durch die Charakterisierung der Oberflächen mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie, sowie unterstützend durch Röntgenreflektometrie zur Ermittlung der Schichtdicke und zum Vergleich der Rauigkeiten.Es wird erforscht, welchen Einfluss der Sauerstoffdruck bei der Hochdrucksputterdeposition auf die Oberfläche der Proben hat. Außerdem werden Proben, die per Molekularstrahlepitaxie hergestellt wurden, auf die Abhängigkeit der Probenoberfläche von der Stöchiometrie untersucht.Dafür werden Reinigungsmethoden für die ein Jahr alten Sputterproben getestet um gute Rasterkraftmikroskopieaufnahmen zu erstellen. Außerdem werden potentielle Fehlerquellen bei AFM-Messungen diskutiert.[1] Akihiro Kojima et al., Journal of the American Chemical Society, 131, 6050 (2009)[2] http://www.nrel.gov/ncpv/images/efficiency_chart.jpg [3] Zhi-Kuang Tan et al., Nature Nanotechnology 9, 687–692 (2014) |
| 536 | _ | _ | |a 54G - JCNS (POF2-54G24) |0 G:(DE-HGF)POF2-54G24 |c POF2-54G24 |f POF II |x 0 |
| 650 | _ | 7 | |a Unveröffentlichte Hochschulschrift |0 V:(DE-588b)4276536-5 |2 GND |x Bachelorarbeit |
| 650 | 2 | 7 | |a Condensed Matter Physics |0 V:(DE-MLZ)SciArea-120 |2 V:(DE-HGF) |x 0 |
| 650 | 2 | 7 | |a Instrument and Method Development |0 V:(DE-MLZ)SciArea-220 |2 V:(DE-HGF) |x 1 |
| 650 | 1 | 7 | |a Instrument and Method Development |0 V:(DE-MLZ)GC-2002-2016 |2 V:(DE-HGF) |x 2 |
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| 773 | _ | _ | |y 2014 |
| 909 | C | O | |o oai:juser.fz-juelich.de:190008 |p VDB:MLZ |p VDB |
| 910 | 1 | _ | |a Forschungszentrum Jülich GmbH |0 I:(DE-588b)5008462-8 |k FZJ |b 0 |6 P:(DE-HGF)0 |
| 910 | 1 | _ | |a Technische Universität München |0 I:(DE-588b)36241-4 |k TUM |b 0 |6 P:(DE-HGF)0 |
| 913 | 2 | _ | |a DE-HGF |b Programmorientierte Förderung |l POF III |1 G:(DE-HGF)POF3 |0 G:(DE-HGF)POF3-600 |2 G:(DE-HGF)POF |v Forschungsbereich Materie |9 G:(DE-HGF)POF3-6G15 |x 0 |
| 913 | 2 | _ | |a DE-HGF |b Forschungsbereich Materie |l Von Materie zu Materialien und Leben |1 G:(DE-HGF)POF3-620 |0 G:(DE-HGF)POF3-623 |2 G:(DE-HGF)POF3-600 |v Facility topic: Neutrons for Research on Condensed Matter |9 G:(DE-HGF)POF3-6G4 |x 1 |
| 913 | 1 | _ | |a DE-HGF |b Struktur der Materie |1 G:(DE-HGF)POF2-540 |0 G:(DE-HGF)POF2-54G24 |2 G:(DE-HGF)POF2-500 |v JCNS |x 0 |4 G:(DE-HGF)POF |3 G:(DE-HGF)POF2 |l Forschung mit Photonen, Neutronen, Ionen |
| 914 | 1 | _ | |y 2014 |
| 920 | _ | _ | |l yes |
| 920 | 1 | _ | |0 I:(DE-Juel1)JCNS-FRM-II-20110218 |k JCNS (München) ; Jülich Centre for Neutron Science JCNS (München) ; JCNS-FRM-II |l JCNS-FRM-II |x 0 |
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| 981 | _ | _ | |a I:(DE-Juel1)JCNS-2-20110106 |
| Library | Collection | CLSMajor | CLSMinor | Language | Author |
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