TY  - CONF
AU  - Schumacher, D.
AU  - Steffen, A.
AU  - Voigt, J.
AU  - Schubert, J.
AU  - Ambaye, H.
AU  - Lauter, V.
AU  - Freeland, J.
AU  - Brückel, T.
TI  - Scalable exchange bias effect in La0.66Sr0.33MnO3-x/SrTiO3 thin films
M1  - PreJuSER-20455
PY  - 2012
N1  - Record converted from VDB: 12.11.2012
Y2  - 25 Mar 2012
M2  - Berlin, 
LB  - PUB:(DE-HGF)6
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/20455
ER  -