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Nanoscale analysis of forming and resistive switching in Fe:STO thin film devices
Dittmann, R.FZJ* ; Münstermann, R.FZJ* ; Krug, I.FZJ* ; Park, D.FZJ* ; Kronast, F.FZJ* ; Besmehn, A.FZJ* ; Mayer, J.FZJ* ; Schneider, C. M.FZJ* ; Waser, R.FZJ*
2012
2012Nature Conference - Frontiers in Electronic Materials
Seminar, AachenAachen, 17 Jun 20122012-06-17
Note: Record converted from VDB: 12.11.2012
Contributing Institute(s):
- Elektronische Materialien (PGI-7)
- Jülich-Aachen Research Alliance - Fundamentals of Future Information Technology (JARA-FIT)
- Elektronische Eigenschaften (PGI-6)
- Zentralabteilung für Chemische Analysen (ZCH)
Research Program(s):
- Grundlagen für zukünftige Informationstechnologien (P42)
Appears in the scientific report
2012