000024636 001__ 24636
000024636 005__ 20180210141455.0
000024636 037__ $$aPreJuSER-24636
000024636 1001_ $$0P:(DE-Juel1)VDB14063$$aThillosen, N.$$b0$$uFZJ
000024636 245__ $$aOptische Charakterisierung von Nitriden hergestellt mittels MOVPE
000024636 260__ $$c2002
000024636 3367_ $$0PUB:(DE-HGF)10$$2PUB:(DE-HGF)$$aDiploma Thesis
000024636 3367_ $$02$$2EndNote$$aThesis
000024636 3367_ $$2DataCite$$aOutput Types/Supervised Student Publication
000024636 3367_ $$2DRIVER$$amasterThesis
000024636 3367_ $$2ORCID$$aSUPERVISED_STUDENT_PUBLICATION
000024636 3367_ $$2BibTeX$$aMASTERSTHESIS
000024636 500__ $$aRecord converted from VDB: 12.11.2012
000024636 502__ $$aAachen, Techn. Hochsch., Dipl., 2002$$bDiplom (FH)$$cTechn. Hochsch. Aachen$$d2002
000024636 536__ $$0G:(DE-Juel1)FUEK252$$2G:(DE-HGF)$$aMaterialien, Prozesse und Bauelemente für die  Mikro- und Nanoelektronik$$cI01$$x0
000024636 655_7 $$aHochschulschrift$$xDiploma Thesis (FH)
000024636 909CO $$ooai:juser.fz-juelich.de:24636$$pVDB
000024636 9131_ $$0G:(DE-Juel1)FUEK252$$bInformation$$kI01$$lInformationstechnologie mit nanoelektronischen Systemen$$vMaterialien, Prozesse und Bauelemente für die  Mikro- und Nanoelektronik$$x0
000024636 9141_ $$y2002
000024636 9201_ $$0I:(DE-Juel1)VDB41$$d31.12.2006$$gISG$$kISG-1$$lInstitut für Halbleiterschichten und Bauelemente$$x0
000024636 970__ $$aVDB:(DE-Juel1)16015
000024636 980__ $$aVDB
000024636 980__ $$aConvertedRecord
000024636 980__ $$adiploma
000024636 980__ $$aI:(DE-Juel1)PGI-9-20110106
000024636 980__ $$aUNRESTRICTED
000024636 981__ $$aI:(DE-Juel1)PGI-9-20110106