Redox Reactions at Cu,Ag/Ta $_{2}$ O $_{5}$ Interfaces and the Effects of Ta $_{2}$ O $_{5}$ Film Density on the Forming Process in Atomic Switch Structures

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Redox Reactions at Cu,Ag/Ta $_{2}$ O $_{5}$ Interfaces and the Effects of Ta $_{2}$ O $_{5}$ Film Density on the Forming Process in Atomic Switch Structures - FZJ-2015-07262

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