Patentanmeldungen

PT 1.2047
T. Roschek, B. Rech - IPV -
"Verfahren zur Abscheidung von Silizium"
DE: 103 08 381.2-45 (27.02.2003)
E02

PT 1.1919
D. Knipp, H. Stiebig - IPV -
H.J. Büchner, G. Jäger - TU Ilmenau -
"Photosensor für ein Durchlichtverfahren zur Detektion der Bewegungseinrichtung von Intensitätsmaxima und Intensitätsminima einer optisch stehenden Welle"
DE: 101 31 608 (12.07.2003)
E02