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Rastertunnelmikroskopie und- Spektroskopie von III-V Halbleiter Nanodrähten
Ebert, P. (Corresponding author)FZJ*
2016
2016Lecture at EFDS Workshop: von Nano bis Makro: neue bildgebende Untersuchungsverfahren für Qualitätskontrolle und Materialforschung (Dresden, Deutschland), 8 Nov 2016 - 9 Nov 20162016-11-082016-11-09
Contributing Institute(s):
- Mikrostrukturforschung (PGI-5)
Research Program(s):
- 141 - Controlling Electron Charge-Based Phenomena (POF3-141) (POF3-141)
Appears in the scientific report
2016
Database coverage:No Authors Fulltext