%0 Patent
%A Tan, Xihe
%A Mester, Achim
%A Zimmermann, Egon
%A van der Kruk, Jan
%T Kalibrierungsverfahren für elektromagnetische Induktionsmesssysteme und Vorrichtung
%M FZJ-2016-07843
%@ DE 10 2016 008 841.9
%D 2016
%Z PT 1.2757DE102016008841A1;EP3488269A1;JP2019526042A;JP6933665B2;US10901107B2;US2019265379A1;WO2018014891A1
%F PUB:(DE-HGF)23
%9 Patent
%N PT 1.2757
%U https://juser.fz-juelich.de/record/825380