Conference Presentation (Other) FZJ-2017-00572

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png
Analysis of the Two-Part SET Switching Process in STO-based ReRAM

 ;  ;  ;  ;  ;  ;

2016

Materials Research Society Fall Meeting, BostonBoston, USA, 27 Nov 2016 - 2 Dec 20162016-11-272016-12-02


Contributing Institute(s):
  1. Elektronische Materialien (PGI-7)
  2. JARA Institut Green IT (PGI-10)
Research Program(s):
  1. 521 - Controlling Electron Charge-Based Phenomena (POF3-521) (POF3-521)

Appears in the scientific report 2016
Database coverage:
No Authors Fulltext
Click to display QR Code for this record

The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Konferenzvorträge
Institutssammlungen > PGI > PGI-10
Institutssammlungen > PGI > PGI-7
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank

 Datensatz erzeugt am 2017-01-17, letzte Änderung am 2021-01-29



Dieses Dokument bewerten:

Rate this document:
1
2
3
 
(Bisher nicht rezensiert)