TY  - CONF
AU  - Simson, M.
AU  - Dunin-Borkowski, Rafal
AU  - Hartmann, R.
AU  - Huth, M.
AU  - Ihle, S.
AU  - Jones, L.
AU  - Kondo, Y.
AU  - Migunov, V.
AU  - Nellist, P. D.
AU  - Ritz, R.
AU  - Ryll, H.
AU  - Sagawa, R.
AU  - Schmidt, J.
AU  - Soltau, H.
AU  - Strüder, L.
AU  - Yang, H.
TI  - Pushing the Limits of Fast Acquisition in TEM Tomography and 4D-STEM
JO  - Microscopy and microanalysis
VL  - 22
IS  - S3
SN  - 1435-8115
CY  - New York, NY
PB  - Cambridge University Press
M1  - FZJ-2017-01400
SP  - 512 - 513
PY  - 2016
T2  - Microscopy and Microanalysis
CY  - 24 Jul 2016 - 28 Jul 2016, Columbus (OH)
Y2  - 24 Jul 2016 - 28 Jul 2016
M2  - Columbus, OH
LB  - PUB:(DE-HGF)16 ; PUB:(DE-HGF)8
DO  - DOI:10.1017/S143192761600341X
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/827202
ER  -