TY  - JOUR
AU  - Müller-Caspary, Knut
AU  - Krause, Florian F.
AU  - Béché, Armand
AU  - Duchamp, Martial
AU  - Schowalter, Marco
AU  - Löffler, Stefan
AU  - Migunov, Vadim
AU  - Winkler, Florian
AU  - Huth, Martin
AU  - Ritz, Robert
AU  - Ihle, Sebastian
AU  - Simson, Martin
AU  - Ryll, Henning
AU  - Soltau, Heike
AU  - Strüder, Lothar
AU  - Zweck, Josef
AU  - Schattschneider, Peter
AU  - Dunin-Borkowski, Rafal
AU  - Verbeeck, Johan
AU  - Rosenauer, Andreas
TI  - Measurement of Atomic Electric Fields by Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Employing Ultrafast Detectors
JO  - Microscopy and microanalysis
VL  - 22
IS  - S3
SN  - 1435-8115
CY  - New York, NY
PB  - Cambridge University Press
M1  - FZJ-2018-06960
SP  - 484 - 485
PY  - 2016
LB  - PUB:(DE-HGF)16
DO  - DOI:10.1017/S1431927616003275
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/858016
ER  -