%0 Book Section
%A Anderson, T. J.
%A Koehler, A. D.
%A Specht, P.
%A Weaver, B. D.
%A Greenlee, J. D.
%A Tadjer, M. J.
%A Hite, J. K.
%A Mastro, M. A.
%A Porter, M.
%A Wade, M.
%A Dubon, O.
%A Luysberg, M.
%A Hobart, K. D.
%A Weatherford, T. R.
%A Kub, F. J.
%T (Invited) Failure Mechanisms in AlGaN/GaN HEMTs Irradiated with 2MeV Protons
%V 66
%@ 1938-5862
%C Pennington, NJ
%I Electrochemical Society (ECS)
%M FZJ-2020-03709
%B ECS transactions
%P 15 - 20
%D 2015
%F PUB:(DE-HGF)7
%9 Contribution to a book
%R 10.1149/06601.0015ecst
%U https://juser.fz-juelich.de/record/885305