TY  - CHAP
AU  - Anderson, T. J.
AU  - Koehler, A. D.
AU  - Specht, P.
AU  - Weaver, B. D.
AU  - Greenlee, J. D.
AU  - Tadjer, M. J.
AU  - Hite, J. K.
AU  - Mastro, M. A.
AU  - Porter, M.
AU  - Wade, M.
AU  - Dubon, O.
AU  - Luysberg, M.
AU  - Hobart, K. D.
AU  - Weatherford, T. R.
AU  - Kub, F. J.
TI  - (Invited) Failure Mechanisms in AlGaN/GaN HEMTs Irradiated with 2MeV Protons
VL  - 66
SN  - 1938-5862
CY  - Pennington, NJ
PB  - Electrochemical Society (ECS)
M1  - FZJ-2020-03709
T2  - ECS transactions
SP  - 15 - 20
PY  - 2015
LB  - PUB:(DE-HGF)7
DO  - DOI:10.1149/06601.0015ecst
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/885305
ER  -