Note: Ausgedehnte Defekte spielen in Oxyden mit VC-artigem resistiven Schalten eine prominente Rolle. In diesem Projekt werden wir unsere Aktivitäten auf die Untersuchung der Natur von reversiblen I/M- und M/M-Übergängen entlang schaltender Nanofilamente in Einkristallen der Modelloxide TiO2 und SrTiO3 fokus-sieren. Die experimentellen Untersuchungen der elektrischen Eigenschaften, der elektronischen und kris-tallographischen Struktur sowie der chemischen Zusammensetzung der Nanofilamente haben zum Ziel Pha-senumwandlungen aufgrund von elektrischen und chemischen Gradienten zu verifizieren. Diese Unter-suchungen werden durch ab initio-Berechnungen ergänzt um die einzelnen Schritte der Umwandlung zu ver-stehen und auf eine große Klasse von binären und ternären Übergangsmetalloxiden anzuwenden.
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