Hauptseite > Normsätze > Projekte > Datensatz #895491 > print

001     895491
005     20230713203925.0
024 7 _ |a G:(GEPRIS)277688395
|d 277688395
035 _ _ |a G:(GEPRIS)277688395
040 _ _ |a GEPRIS
|c http://gepris.its.kfa-juelich.de
150 _ _ |a In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie von resistiv schaltenden Bauelementen (B09)
|y 2015 - 2023
371 _ _ |a Professor Dr. Rafal E. Dunin-Borkowski
450 _ _ |a SFB 917 B09
|w d
|y 2015 - 2023
510 1 _ |a Deutsche Forschungsgemeinschaft
|0 I:(DE-588b)2007744-0
|b DFG
550 _ _ |0 G:(GEPRIS)167917811
|a SFB 917: Resistiv schaltende Chalkogenide für zukünftige Elektronikanwendungen: Struktur, Kinetik und Bauelementskalierung "Nanoswitches"
|w t
680 _ _ |a Im Projekt B9 liegt der Schwerpunkt auf der in situ TEM-Charakterisierung neuartiger PCM- und VCM-Materialien während des Schaltvorgangs. Änderungen der Atomstruktur und der lokalen elektrischen Feldverteilungen werden mit sub-nm räumlicher Auflösung verfolgt, wobei sowohl pixelige STEM-Techniken als auch die Elektronenholographie außerhalb der Achse verwendet werden. Bei PCMs wird der Schwerpunkt auf Studien an räumlich begrenzten Bauelementen liegen, bei denen die kleine Bauteilgröße und die kurzen Verweilzeiten die Bildgebung erschweren. Bei VCMs liegt der Schwerpunkt auf Defektstudien, die eine strukturelle und chemische Analyse mit subatomarer Auflösung erfordern.
909 C O |o oai:juser.fz-juelich.de:895491
|p authority:GRANT
|p authority
980 _ _ |a G
980 _ _ |a AUTHORITY

LibraryCollectionCLSMajorCLSMinorLanguageAuthor
Marc 21