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Evaluating the Impact of Process Variation on RRAMs
Brum, E. ; Fieback, M. ; Copetti, T. S. ; Jiayi, H. ; Hamdioui, S. ; Vargas, F. ; Poehls, L. M. B.
2021
20212021 IEEE 22nd Latin American Test Symposium (LATS), Punta del EstePunta del Este, Uruguay, 27 Oct 2021 - 29 Oct 20212021-10-272021-10-29
1 pp. (2021) [10.1109/LATS53581.2021.9651789]2021
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Contributing Institute(s):
- Elektronische Materialien (PGI-7)
- JARA-FIT (JARA-FIT)
Research Program(s):
- 5233 - Memristive Materials and Devices (POF4-523) (POF4-523)
- BMBF-16ES1134 - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC - (BMBF-16ES1134) (BMBF-16ES1134)
- Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC -, Teilvorhaben: Forschungszentrum Jülich (16ES1133K) (16ES1133K)
Appears in the scientific report
2021