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| 001 | 909441 | ||
| 005 | 20241125210920.0 | ||
| 024 | 7 | _ | |a G:(GEPRIS)437420753 |d 437420753 |
| 035 | _ | _ | |a G:(GEPRIS)437420753 |
| 040 | _ | _ | |a GEPRIS |c http://gepris.its.kfa-juelich.de |
| 150 | _ | _ | |a Korngrenzphasen in Ni, Ni-Cu und Ni-Au Mischkristall-Schichten (B06) |y 2020 - |
| 371 | _ | _ | |a Professor Dr. Gerhard Dehm |
| 371 | _ | _ | |a Rajaprakash Ramachandramoorthy, Ph.D. |
| 450 | _ | _ | |a SFB 1394 B06 |w d |y 2020 - |
| 510 | 1 | _ | |a Deutsche Forschungsgemeinschaft |0 I:(DE-588b)2007744-0 |b DFG |
| 550 | _ | _ | |0 G:(GEPRIS)409476157 |a SFB 1394: Strukturelle und chemische atomare Komplexität – Von Defekt-Phasendiagrammen zu Materialeigenschaften |w t |
| 680 | _ | _ | |a Projekt B06 untersucht mit atomar aufgelöster Raster-Transmissionselektronenmikroskopie und zugehörigen Spektroskopiemethoden die atomare Struktur und chemische Zusammensetzung von Korngrenzen in reinem Ni und Ni-X (X= Cu, Au, Nb) Legierungen. Ein wesentliches Augenmerk der Experimente liegt auf dem Nachweis von temperaturabhängigen, mechanisch oder chemisch induzierten Phasenumwandlungen von Korngrenzdefektphasen. Der Einfluss der Korngrenzdefektphase auf die Versetzungs-Korngrenztransmission und damit auf die Plastizität erfolgt mit in-situ Elektronenmikroskopie mittels neuartiger, mikro-additiv gefertigter mechanischer Probenträger. |
| 909 | C | O | |o oai:juser.fz-juelich.de:909441 |p authority:GRANT |p authority |
| 980 | _ | _ | |a G |
| 980 | _ | _ | |a AUTHORITY |
| Library | Collection | CLSMajor | CLSMinor | Language | Author |
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