TY  - JOUR
AU  - Schnieders, K.
AU  - Funck, C.
AU  - Cüppers, F.
AU  - Aussen, S.
AU  - Kempen, T.
AU  - Sarantopoulos, A.
AU  - Dittmann, R.
AU  - Menzel, S.
AU  - Rana, V.
AU  - Hoffmann-Eifert, S.
AU  - Wiefels, S.
TI  - Effect of electron conduction on the read noise characteristics in ReRAM devices
JO  - APL materials
VL  - 10
IS  - 10
SN  - 2166-532X
CY  - Melville, NY
PB  - AIP Publ.
M1  - FZJ-2022-04090
SP  - 101114 -
PY  - 2022
LB  - PUB:(DE-HGF)16
UR  - <Go to ISI:>//WOS:000878200200002
DO  - DOI:10.1063/5.0109787
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/910720
ER  -