TY  - JOUR
AU  - Peric, Nemanja
AU  - Durand, Corentin
AU  - Berthe, Maxime
AU  - Lu, Yan
AU  - N'Konou, Kekeli
AU  - Coratger, Roland
AU  - Lefebvre, Isabelle
AU  - Ebert, Philipp
AU  - Biadala, Louis
AU  - Desplanque, Ludovic
AU  - Wallart, Xavier
AU  - Grandidier, B.
TI  - Direct measurement of band offsets on selective area grown In 0.53 Ga 0.47 As/InP heterojunction with multiple probe scanning tunneling microscopy
JO  - Applied physics letters
VL  - 121
IS  - 19
SN  - 0003-6951
CY  - Melville, NY
PB  - American Inst. of Physics
M1  - FZJ-2022-04436
SP  - 192104 -
PY  - 2022
LB  - PUB:(DE-HGF)16
UR  - <Go to ISI:>//WOS:000880805900005
DO  - DOI:10.1063/5.0104807
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/911110
ER  -