000930793 001__ 930793
000930793 005__ 20240218203016.0
000930793 0247_ $$aG:(GEPRIS)437412087$$d437412087
000930793 035__ $$aG:(GEPRIS)437412087
000930793 040__ $$aGEPRIS$$chttp://gepris.its.kfa-juelich.de
000930793 150__ $$aVorwissensbasierte Analyse atomar aufgelöster Bilddaten (A04)$$y2020 -
000930793 371__ $$aProfessor Dr. Benjamin Berkels
000930793 450__ $$aSFB 1394 A04$$wd$$y2020 -
000930793 5101_ $$0I:(DE-588b)2007744-0$$aDeutsche Forschungsgemeinschaft$$bDFG
000930793 550__ $$0G:(GEPRIS)409476157$$aSFB 1394: Strukturelle und chemische atomare Komplexität – Von Defekt-Phasendiagrammen zu Materialeigenschaften$$wt
000930793 680__ $$aZiel des Projekts ist die Entwicklung und Implementierung neuer Methoden zur automatischen Kristalldefekt-Analyse atomar aufgelöster Bilddaten. Hierzu werden wir Methoden zur automatischen Erkennung von Strukturen/Mustern in 2D-Atomgittern entwickeln. Zusätzlich werden wir Verfahren für automatisches Bump-Fitting, d.h. zur Lokalisierung von Atomen in Bilddaten, entwerfen. Zusammen werden wir diese als Basis für einen quantitativen Vergleich entsprechender Strukturen in experimentellen und simulierten Daten nutzen. Die entwickelten Bildanalysealgorithmen werden dockerisiert und so dem gesamten SFB zugänglich gemacht.
000930793 909CO $$ooai:juser.fz-juelich.de:930793$$pauthority$$pauthority:GRANT
000930793 980__ $$aG
000930793 980__ $$aAUTHORITY