001     930793
005     20240218203016.0
024 7 _ |a G:(GEPRIS)437412087
|d 437412087
035 _ _ |a G:(GEPRIS)437412087
040 _ _ |a GEPRIS
|c http://gepris.its.kfa-juelich.de
150 _ _ |a Vorwissensbasierte Analyse atomar aufgelöster Bilddaten (A04)
|y 2020 -
371 _ _ |a Professor Dr. Benjamin Berkels
450 _ _ |a SFB 1394 A04
|w d
|y 2020 -
510 1 _ |a Deutsche Forschungsgemeinschaft
|0 I:(DE-588b)2007744-0
|b DFG
550 _ _ |0 G:(GEPRIS)409476157
|a SFB 1394: Strukturelle und chemische atomare Komplexität – Von Defekt-Phasendiagrammen zu Materialeigenschaften
|w t
680 _ _ |a Ziel des Projekts ist die Entwicklung und Implementierung neuer Methoden zur automatischen Kristalldefekt-Analyse atomar aufgelöster Bilddaten. Hierzu werden wir Methoden zur automatischen Erkennung von Strukturen/Mustern in 2D-Atomgittern entwickeln. Zusätzlich werden wir Verfahren für automatisches Bump-Fitting, d.h. zur Lokalisierung von Atomen in Bilddaten, entwerfen. Zusammen werden wir diese als Basis für einen quantitativen Vergleich entsprechender Strukturen in experimentellen und simulierten Daten nutzen. Die entwickelten Bildanalysealgorithmen werden dockerisiert und so dem gesamten SFB zugänglich gemacht.
909 C O |o oai:juser.fz-juelich.de:930793
|p authority:GRANT
|p authority
980 _ _ |a G
980 _ _ |a AUTHORITY


LibraryCollectionCLSMajorCLSMinorLanguageAuthor
Marc 21