Home > Authorities > Grants > Record #968662 > print

001     968662
005     20240925205854.0
024 7 _ |a G:(GEPRIS)403371556
|d 403371556
035 _ _ |a G:(GEPRIS)403371556
040 _ _ |a GEPRIS
|c http://gepris.its.kfa-juelich.de
150 _ _ |a Hochauflösendes Raster-Transmissionselektronenmikroskop (300kV)
|y 2018
371 _ _ |a Professor Dr. Michael Lehmann
450 _ _ |a DFG project G:(GEPRIS)403371556
|w d
|y 2018
510 1 _ |a Deutsche Forschungsgemeinschaft
|0 I:(DE-588b)2007744-0
|b DFG
680 _ _ |a Die Elektronenmikroskopie der TU Berlin ist konzentriert auf die Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI) sowie die Arbeitsgruppe von Prof. Lehmann (AG Lehmann). Beide Gruppen arbeiten mit unterschiedlichen Ausrichtungen und Aufgaben eng miteinander zusammen, haben eigene Forschungsschwerpunkte und sind in der Lehre sehr engagiert. In dem vorliegenden gemeinsamen Antrag für ein State-of-the-Art 300 kV hochauflösendes (Raster-) Transmissionselektronenmikroskop (S)TEM mit hochkohärenter Elektronenquelle, Probe-Cs Korrektor, EDX mit großem Raumwinkel und großem Abnahmewinkel sowie Pixelated-Detektor sollen das Spektrum der Analysemethoden u.a. um die Elementanalytik (vor allem Elemental Mapping) bis hin zu atomarer Auflösung sowie des Strain-Mappings und der Messung von Potentialverteilungen erweitert werden. Nanostrukturierte Halbleitermaterialien und katalytisch aktive Nanopartikel auf unterschiedlichen Trägern stehen im Vordergrund, die von Arbeitsgruppen aus verschiedenen Fachrichtungen entwickelt werden. Die Messungen werden flankiert von methodischen Weiterentwicklungen insbesondere der Ptychographie, des Strain-Mapping, des Electrostatic Potential Mapping und der STEM-Holographie sowie der Etablierung der EDX-Analyse als quantitative Methode.
909 C O |o oai:juser.fz-juelich.de:968662
|p authority:GRANT
|p authority
980 _ _ |a G
980 _ _ |a AUTHORITY

LibraryCollectionCLSMajorCLSMinorLanguageAuthor
Marc 21