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001     998259
005     20230705203333.0
024 7 _ |a G:(GEPRIS)513417808
|d 513417808
035 _ _ |a G:(GEPRIS)513417808
040 _ _ |a GEPRIS
|c http://gepris.its.kfa-juelich.de
150 _ _ |a Einfluss der grundlegenden elektronischen Struktur auf die Korngrenzeigenschaften in oxidischen Perowskiten (B04)
|y 2023 -
371 _ _ |a Professor Dr. Andreas Klein
371 _ _ |a Professor Dr.-Ing. Wolfgang Rheinheimer
450 _ _ |a SFB 1548 B04
|w d
|y 2023 -
510 1 _ |a Deutsche Forschungsgemeinschaft
|0 I:(DE-588b)2007744-0
|b DFG
550 _ _ |0 G:(GEPRIS)463184206
|a SFB 1548: FLAIR - Fermi Level Engineering angewendet auf oxidische Elektrokeramiken
|w t
680 _ _ |a Projekt B04 untersucht die Segregation von Defekten und Übergangsmetalldotanden mit variabler Valenz an Korngrenzen sowie die Anreicherung dieser Dotanden in den dazugehörigen Raumladungszonen in BaTiO3 und CaTiO3, um den Einfluss der Segregation und Anreicherung auf die Mikrostrukturentwicklung und die elektrischen Eigenschaften aufzuklären. Hierfür benötigt B04 die Ergebnisse weiterer experimenteller Projekte während es selbst Referenzdaten für Theorieprojekte bereitstellt. Zusätzlich stellt Projekt B04 hochqualitative Keramikproben und Bi-Kristalle aus dotiertem BaTiO3 für verschiedene analytische Projekte her. Dadurch wird eine Vergleichbarkeit der Daten aus verschiedenen Charakterisierungsmethoden geschaffen.
909 C O |o oai:juser.fz-juelich.de:998259
|p authority:GRANT
|p authority
980 _ _ |a G
980 _ _ |a AUTHORITY

LibraryCollectionCLSMajorCLSMinorLanguageAuthor
Marc 21