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Secondary Ion Mass Spectrometry Study of Hydrogenated Amorphous Silicon Layer Disintegration upon Rapid (Laser) Annealing - FZJ-2023-01669
 
Main document Datei(en):
      Physica Status Solidi a - 2023 - Beyer - Secondary Ion Mass Spectrometry Study of Hydrogenated Amorphous Silicon Layer
    Version 1
    Physica Status Solidi a - 2023 - Beyer - Secondary Ion Mass Spectrometry Study of Hydrogenated Amorphous Silicon Layer.pdf [4.88 MB] 21 Nov 2023, 10:14 OpenAccess
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