On the importance of varying device thickness and temperature on the outcome of space-charge-limited current measurements

Gast :: Anmelden JuSER
		Suchen		Absenden		Personalisieren Ihre Benachrichtigungen Ihre Körbe Ihre Suchanfragen		Hilfe

On the importance of varying device thickness and temperature on the outcome of space-charge-limited current measurements - FZJ-2025-01182

Main document Datei(en):

JuSER :: :: :: ::
Powered by v1.1.7 |
Verwaltet von

Impressum | Data Privacy Policy

Diese Seite gibt es auch in den folgenden Sprachen:
Deutsch English