In-operando atomic force microscopy and high-resolution electron microscopy on functional layers in batteries &amp; electrolyzers

Hausen, Florian; Schierholz, Roland

Gast :: Anmelden JuSER
		Suchen		Absenden		Personalisieren Ihre Benachrichtigungen Ihre Körbe Ihre Suchanfragen		Hilfe

Hauptseite > Publikationsdatenbank > In-operando atomic force microscopy and high-resolution electron microscopy on functional layers in batteries & electrolyzers > RIS

TY  - CONF
AU  - Hausen, Florian
AU  - Schierholz, Roland
TI  - In-operando atomic force microscopy and high-resolution electron microscopy on functional layers in batteries &amp; electrolyzers
M1  - FZJ-2026-00583
PY  - 2025
T2  - CSE Seminar - Argonne National Laboratory
CY  - ,  (USA)
M2  - , USA
LB  - PUB:(DE-HGF)31
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/1051675
ER  -

JuSER :: :: :: ::
Powered by v1.1.7 |
Verwaltet von

Impressum | Data Privacy Policy

Diese Seite gibt es auch in den folgenden Sprachen:
Deutsch English