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Hauptseite > Publikationsdatenbank > Impact of laser energy density on engineering resistive switching dynamics in self-rectifying analog memristors based on BiFeO3 thin films > Zugang zum Volltext
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Impact of laser energy density on engineering resistive switching dynamics in self-rectifying analog memristors based on BiFeO3 thin films - FZJ-2026-03176
 
Main document Datei(en):
      135303_1_5.0196718-1
    Version 1
    135303_1_5.0196718-1.pdf [2.06 MB] 17 Jul 2026, 13:03 OpenAccess
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