Contribution to a conference proceedings FZJ-2013-00029

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Advanced electrical impedance tomography system with high phase accuracy

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2010

6th World Congress on Industrial Process Tomography, BejingBejing, China, 6 Sep 2010 - 9 Sep 20102010-09-062010-09-09 583-591 ()


Contributing Institute(s):
  1. Zentralinstitut für Elektronik (ZEL)
  2. Agrosphäre (IBG-3)
Research Program(s):
  1. 246 - Modelling and Monitoring Terrestrial Systems: Methods and Technologies (POF2-246) (POF2-246)

Appears in the scientific report 2012
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 Datensatz erzeugt am 2013-01-04, letzte Änderung am 2025-01-29



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