TY  - JOUR
AU  - Melville, A.
AU  - Mairoser, T.
AU  - Schmehl, A.
AU  - Birol, T.
AU  - Heeg, T.
AU  - Holländer, Bernhard
AU  - Schubert, Jürgen
AU  - Fennie, C. J.
AU  - Schlom, D. G.
TI  - Effect of film thickness and biaxial strain on the curie temperature of EuO
JO  - Applied physics letters
VL  - 102
IS  - 6
SN  - 0003-6951
CY  - Melville, NY
PB  - American Institute of Physics
M1  - FZJ-2013-01283
SP  - 062404 -
PY  - 2013
LB  - PUB:(DE-HGF)16
UR  - <Go to ISI:>//WOS:000315053300045
DO  - DOI:10.1063/1.4789972
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/132040
ER  -