TY  - JOUR
AU  - Meier, Matthias
AU  - Bittkau, Karsten
AU  - Paetzold, Ulrich W.
AU  - Hüpkes, Jürgen
AU  - Muthmann, Stefan
AU  - Schmitz, Ralf
AU  - Mück, Andreas
AU  - Gordijn, Aad
TI  - In-situ determination of the effective absorbance of thin μc-Si:H layers growing on rough ZnO:Al
JO  - EPJ Photovoltaics
VL  - 4
SN  - 2105-0716
CY  - Les Ulis
PB  - EDP Sciences
M1  - FZJ-2013-04947
SP  - 40602
PY  - 2013
LB  - PUB:(DE-HGF)16
DO  - DOI:10.1051/epjpv/2013025
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/138876
ER  -