%0 Patent
%A Thust, Andreas
%T Verfahren und Elektronenmikroskop zur Messung der Ähnlichkiet zweidimensionaler Bilder
%M FZJ-2013-05610
%@ 8,351,710
%D 2013
%Z US-amerikanische Patentanmeldung 12/310,052
%F PUB:(DE-HGF)23
%9 Patent
%N .
%U https://juser.fz-juelich.de/record/139629