TY  - PAT
AU  - Thust, Andreas
TI  - Verfahren und Elektronenmikroskop zur Messung der Ähnlichkiet zweidimensionaler Bilder
M1  - FZJ-2013-05610
SN  - 8,351,710
PY  - 2013
N1  - US-amerikanische Patentanmeldung 12/310,052
LB  - PUB:(DE-HGF)23
IS  - .
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/139629
ER  -