http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png
Characterization of Lanthanum Lutetium oxide high-k / metal gate stacks for CMOS process integration

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2012

SpLine Users' Meeting
Seminar, Madrid, SpanienMadrid, Spanien, 16 Apr 20122012-04-16


Note: Record converted from VDB: 12.11.2012

Contributing Institute(s):
  1. Halbleiter-Nanoelektronik (PGI-9)
  2. Jülich-Aachen Research Alliance - Fundamentals of Future Information Technology (JARA-FIT)
Research Program(s):
  1. Grundlagen für zukünftige Informationstechnologien (P42)

Appears in the scientific report 2012
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The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Poster
JARA > JARA > JARA-JARA\-FIT
Institutssammlungen > PGI > PGI-9
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank

 Datensatz erzeugt am 2012-11-13, letzte Änderung am 2018-02-10



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