http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png
Investigations of the influence of traps in AlGaN/GaN HEMTs
Wolter, M.FZJ* ; Javorka, P.FZJ* ; Marso, M.FZJ* ; Alam, A. ; Carius, R.FZJ* ; Fox, P. T.FZJ* ; Heuken, M. ; Kordos, P.FZJ* ; Lüth, H.FZJ*
2001
ISBN: 0-7803-7049-X
2001Proceedings of the 9th EDMO : International Symposium on Electron Devices for Microwave and Optoelectronics Applications, Wien, Austria. - 2001. - 0-7803-7049-X. - S. 149
Note: Record converted from VDB: 12.11.2012
Contributing Institute(s):
- Institut für Halbleiterschichten und Bauelemente (ISG-1)
- Institut für Photovoltaik (IPV)
Research Program(s):
- Halbleiterbauelemente und Analytik (29.88.0)
- Halbleiterschichtsysteme und Mesoskopische Strukturen (29.89.0)
- Grundlagen und Technologie von Dünnschichtsolarzellen (30.90.0)
Appears in the scientific report
2001
Notes: Proceedings