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Defect and contact properties - their influence on shape and magnitude of I(V)-leakage current curves in high-permittivity thin film capacitors



2005

Materials Research Society Symposium on Ferroelectric Thin Films XIV
Seminar, Boston, Mass.Boston, Mass., 27 Nov 20052005-11-27


Note: Record converted from VDB: 12.11.2012
Contributing Institute(s):
  1. Elektronische Materialien (IFF-IEM)
  2. Center of Nanoelectronic Systems for Information Technology (CNI)
Research Program(s):
  1. Materialien, Prozesse und Bauelemente für die Mikro- und Nanoelektronik (I01)

Appears in the scientific report 2005
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The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Poster
Institutssammlungen > PGI > PGI-7
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank
 Datensatz erzeugt am 2012-11-13, letzte Änderung am 2018-02-10
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