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Conference Presentation (Invited) FZJ-2017-01119
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Direct measurement of the electric field around an electrically biased atom probe needle in the transmission electron microscope



2016

Atom Probe Tomography amd Microscopy 2016 (55th IFES)"From Science to industry", GyeongjuGyeongju, South Korea, 12 Jun 2016 - 17 Jun 20162016-06-122016-06-17

Contributing Institute(s):
  1. Mikrostrukturforschung (PGI-5)
  2. Physik Nanoskaliger Systeme (ER-C-1)
Research Program(s):
  1. 143 - Controlling Configuration-Based Phenomena (POF3-143) (POF3-143)

Appears in the scientific report 2016
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The record appears in these collections:
Dokumenttypen > Präsentationen > Konferenzvorträge
Institutssammlungen > ER-C > ER-C-1
Institutssammlungen > PGI > PGI-5
Workflowsammlungen > Öffentliche Einträge
Publikationsdatenbank
 Datensatz erzeugt am 2017-01-26, letzte Änderung am 2024-06-10
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