TY  - CONF
AU  - Müller - Caspary, K.
AU  - Krause, F. F.
AU  - Béché, A.
AU  - Duchamp, Martial
AU  - Schowalter, M.
AU  - Löffler, S.
AU  - Migunov, Vadim
AU  - Winkler, Florian
AU  - Huth, Melanie
AU  - Ritz, R.
AU  - Ihle, S.
AU  - Simson, M.
AU  - Ryll, H.
AU  - Soltau, H.
AU  - Strüder, L.
AU  - Zweck, J.
AU  - Schattschneider, P.
AU  - Dunin-Borkowski, Rafal
AU  - Verbeeck, J.
AU  - Rosenauer, A.
TI  - Measurement of atomic eletric fields by scanning transmission electron microscopy (STEM) employing ultrafast detectors
CY  - New York, NY
PB  - Cambridge University Press
M1  - FZJ-2017-01401
SP  - 484 - 485
PY  - 2016
T2  - Microscopy and Microanalysis
CY  - 24 Jul 2016 - 28 Jul 2016, Columbus (OH)
Y2  - 24 Jul 2016 - 28 Jul 2016
M2  - Columbus, OH
LB  - PUB:(DE-HGF)8
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/827203
ER  -