Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7}$-Dünnfilmen auf SrTiO$_{3}$-Bikristall Substraten

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Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7}$-Dünnfilmen auf SrTiO$_{3}$-Bikristall Substraten - FZJ-2019-01314

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