TY  - JOUR
AU  - Niu, Yue
AU  - Gonzalez-Abad, Sergio
AU  - Frisenda, Riccardo
AU  - Marauhn, Philipp
AU  - Drüppel, Matthias
AU  - Gant, Patricia
AU  - Schmidt, Robert
AU  - Taghavi, Najme
AU  - Barcons, David
AU  - Molina-Mendoza, Aday
AU  - de Vasconcellos, Steffen
AU  - Bratschitsch, Rudolf
AU  - Perez De Lara, David
AU  - Rohlfing, Michael
AU  - Castellanos-Gomez, Andres
TI  - Thickness-Dependent Differential Reflectance Spectra of Monolayer and Few-Layer MoS$_2$, MoSe$_2$, WS$_2$ and WSe$_2$
JO  - Nanomaterials
VL  - 8
IS  - 9
SN  - 2079-4991
CY  - Basel
PB  - MDPI
M1  - FZJ-2019-04117
SP  - 725 -
PY  - 2018
LB  - PUB:(DE-HGF)16
DO  - DOI:10.3390/nano8090725
UR  - https://juser.fz-juelich.de/record/864302
ER  -